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                        輸力強Modulab XM光電化學測試系統

                        簡要描述:Modulab XM Photoechem是一套可完整表征染料敏化和鈣鈦礦等電池的整體集成式光學測試系統。而且該體系可用于可見光譜-光電化學領域的研究,例如,氧化鐵催化光解水等。Solartron Analytical作為超過二十年的行業*,認識到許多儀器使用者對儀器技術本身并不很熟悉,因此推出此產品的核心理念是對海量數據的分析實現“一鍵式"操作,研發并提供綜合成套的技術解決方案。

                        • 產品型號:Modulab Photoechem
                        • 廠商性質:生產廠家
                        • 更新時間:2022-03-10
                        • 訪  問  量:4029
                        • 產品簡介

                        Modulab XM Photoechem 是一套可表征染料敏化電池的整體集成式光學測試系統。而且該體系可用于可見光譜-光電化學領域的研究,例如,氧化鐵催化光解水等。

                         

                        Solartron Analytical作為超過二十年的行業*,認識到許多儀器使用者對儀器技術本身并不很熟悉,因此推出此產品的核心理念是對海量數據的分析實現“一鍵式”操作,研發并提供綜合成套的技術解決方案。而對于有經驗的使用者,ModuLab提供了功能強大的實驗步驟設置軟件,用戶可自行建立和發展的新的實驗方案。

                         

                        該系統具有以下特點:

                           頻域和時域的測試技術,包括:IMPS,IMVS,阻抗,

                        光電壓衰減,電量抽取和I-V曲線

                           對有效擴散系數的計算和電子壽命的“自動”數據分析

                        的“一鍵式”操作,適合于對頻域測試技術比較陌生的使用者。

                           帶有NIST(美國國家標準與技術研究院測試標準)可追溯

                        校準文件的光源,并且日??梢詫ζ溥M行校驗檢查

                           長期穩定的熱效管理的光源

                           提供一系列的高亮度單色LED光源

                           軟件包含全套電化學測試技術,包括:循環伏安(C-V),

                        恒電壓-電流測試,系列的阻抗測試方法以及交流伏安法

                           輔助分壓功能可用于同時檢測陽極和陰極的阻抗和電壓

                           Solartron Analytical的頻率響應分析(FRA)技術,包含

                        單波,頻率掃描和多波技術

                           *兼容ModuLab 和 ModuLab XM全部功能

                         

                         

                        不僅是一個光電化學測試體系

                        ModuLab Photoehem集合了功能強大的ModuLab頻率響應分析(FRA)和恒電位儀技術?,F有Modulab 系統通過配備選項卡和光學工作臺即可升級為ModuLab XM Photoechem。

                        豐富的電化學測試軟件包括:

                           循環伏安(階梯和線性掃描)

                           電位階躍法

                           常規和差分脈沖

                           電位控制/電流控制阻抗(單波或多波/快速傅立葉轉換分析)

                           交流伏安

                        控制光學平臺進行以上測試技術可以使研究人員開發出更多DSSC的測試技術。

                         

                        如需了解更多關于ModuLab恒電位儀及頻率響應分析(FRA)技術,請參閱ModuLab XM Photoechem樣本。

                         

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